普發氦質譜檢漏儀

inTEST 安全芯片高低溫沖擊測試
上(Superior)海伯東美國(Country) inTEST 冷熱沖擊機可與愛德萬 advantest, 泰瑞達 teradyne, 惠瑞捷 verigy 等測試機聯用(Use), 進行安全芯片的(Of)高低溫沖擊測試. 實時(Hour)監測安全芯片的(Of)真實溫度，可随時(Hour)調整沖擊氣流, 對測試機平台 load board 上(Superior)的(Of)安全芯片進行快速溫度循環沖擊, 傳統高低溫箱無法針對此類測試.

安全芯片多用(Use)于(At)銀行卡, 門禁卡及物聯網中, 由于(At)受到(Arrive)工作(Do)空間狹小, 芯片接觸面積小, 空氣流通環境差, 散熱的(Of)條件不(No)好等影響,芯片表面可能會經曆快速升溫, 并且需要(Want)在(Exist)高溫的(Of)環境中長時(Hour)間工作(Do); 同時(Hour)實驗室也會搜集一(One)些芯片的(Of)高低溫運行的(Of)數據做留存資料.所以(By)測試安全芯片在(Exist)快速變溫過程中的(Of)穩定性十分必要(Want).

上(Superior)海伯東安全芯片高低溫測試客戶案例:某半導體公司,安全芯片測試溫度要(Want)求 ﹣40℃～105℃, 選用(Use) InTEST ATS-545 與泰瑞達測試機聯用(Use), 對安全芯片進行快速冷熱沖擊, 設置 12組不(No)同形式的(Of)循環溫度設定,快速得到(Arrive)完整精确的(Of)數據.

示意圖

inTEST ThermoStream ATS-545 技術參數:

型号	溫度範圍 °C	* 變溫速率	輸出(Out)氣流量	溫度 精度	溫度顯示 分辨率	溫度 傳感器
ATS-545	-75 至 + 225(50 HZ) -80 至 + 225(60 HZ) 不(No)需要(Want)LN2或LCO2冷卻	-55至 +125°C 約 10 S 或更少 +125至 -55°C 約 10 S 或更少	4 至 18 scfm 1.9至 8.5 l/s	±1℃ 通過美國(Country)NIST 校準	±0.1℃	T或K型 熱電偶

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