Pfeiffer 真空計基本校準系統
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Pfeiffer 真空計基本校準系統

Pfeiffer 真空計基本校準系統
在(Exist)實際生(Born)産中, 真空規的(Of)測量精度和(And)重複性直接影響工藝的(Of)穩定性和(And)産品的(Of)質量, 因此定期對真空規進行校準顯得尤其重要(Want), 針對此應用(Use), 上(Superior)海伯東德國(Country) Pfeiffer 推出(Out)真空計校準系統, 現已廣泛應用(Use)于(At)制藥行業冷凍幹燥工藝.

Pfeiffer 真空計基本校準系統
用(Use)于(At)靜态和(And)動态校準
校準範圍 1.013 – 10-4 hPa
操作(Do)簡便, 靈活
符合 ISO/TS 3567 标準
最多測試 3個(Indivual)中底真空規
通過 DAkkS 認證
接受客戶定制

基本校準系統技術參數:

型号

基本校準系統
PS A30 105

基本校準系統
PS A30 106

基本校準系統
PS A30 107

精度

根據不(No)同的(Of)真空規

電纜長度

3米

連接真空計

2x DN 16 ISO-KF
2x DN 25 ISO-KF
2x DN 40 ISO-KF

3x DN 16 ISO-KF,
2x DN 25 ISO-KF
1x DN 40 ISO-KF

6x DN 40 ISO-KF

氣體流量

5 X10-6-1E3 hPa·l/s

進氣口

DN 16 ISO-KF

測量範圍

1X10-4 – 1E3 hPa

測量範圍 max.

1X103 hPa

測量範圍 min.

1 X10-4 hPa

操作(Do)方式

手動

電力消耗

230 VA

前級泵抽速 50 Hz

0.9 m³/h

氮氣抽速

67 l/s

極限壓力

< 1X10-7 hPa

重量

27 kg

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真空規校準方法: 校準以(By)待校準的(Of)真空計和(And)按照 ISO/TS 3567 标準的(Of)标準真空計的(Of)測量值的(Of)比較爲(For)基礎. 待校準的(Of)真空計和(And)已被校準的(Of)标準真空計被連接在(Exist)一(One)個(Indivual)标準化的(Of)真空室上(Superior) (按照 ISO/TS 3567, 規格 b 型) 并被置于(At)同樣的(Of)真空環境中.
提供靜态校準和(And)動态校準, 不(No)僅可在(Exist) > 1 hPa 的(Of)測量範圍内靜态校準, 也能在(Exist) < 1 hPa 的(Of)測量範圍内動态校準.

Pfeiffer 基本校準系統應用(Use)
藥劑和(And)食品工業中的(Of)冷凍幹燥
用(Use)于(At)光學, 眼鏡和(And)裝飾層的(Of)鍍膜系統, 用(Use)于(At) PET 瓶和(And)包裝膜的(Of)擴散阻擋層, 刀具鍍膜
進行用(Use)以(By)确定工藝結束的(Of)工藝監控和(And)工藝控制, 以(By)便形成穩定的(Of)品質并使廢品率最小化

其他(He)産品