普發氦質譜檢漏儀

inTEST Thermostream 高低溫測試機應用(Use)于(At)半導體元器件高低溫測試
半導體元器件
半導體器件 semiconductor device, 是(Yes)導電性介于(At)良導電體與絕緣體之間, 利用(Use)半導體材料特殊電特性來(Come)完成特定功能的(Of)電子器件, 可用(Use)來(Come)産生(Born), 控制, 接收, 變換, 放大(Big)信号和(And)進行能量轉換.

半導體元器件高低溫測試: 爲(For)了(Got it)滿足半導體部分元器件以(By)及 PCB 闆部分元件的(Of)可靠性, 以(By)及在(Exist)運行功耗的(Of)情況下的(Of)功能性, 特異性分析, 需要(Want)模拟不(No)同的(Of)溫度環境下或者往複溫度變化下的(Of)測試需要(Want).

上(Superior)海伯東半導體器件高低溫測試客戶案例一(One): 北京某從事半導體産品 MCU, MSIG, SCR-LM, SRAM 的(Of)生(Born)産商使用(Use) Thermostream TPO4310 (升級型号爲(For) ATS-545) 測試芯片的(Of)耐溫性能, 要(Want)求測試溫度 -45 到(Arrive) 160 °C, TPO4310 測試溫度範圍 -75 至 +225°C, 輸出(Out)氣流量 4 至 18 scfm, 溫度精度 ±1℃, 可以(By)滿足客戶的(Of)需求!


上(Superior)海伯東半導體器件高低溫測試客戶案例二: 某生(Born)産半導體元器件企業
客戶一(One)般在(Exist) wifi 模塊以(By)及 PCB 闆子中的(Of)部分元件測試. 溫度測試需要(Want)在(Exist) -60℃~120℃ 區間内設定高溫和(And)低溫, 并盡可能減少溫度點之間的(Of)切換時(Hour)間. 同時(Hour)要(Want)求均勻的(Of)将溫度吹掃至待測物體表面. 并維持高低溫度設定點每個(Indivual)溫度點 12H 切換一(One)次, 照此循環30次, 并且以(By)上(Superior)操作(Do)不(No)能影響其他(He)非測試元器件.

針對客戶提出(Out)的(Of)測試要(Want)求, 上(Superior)海伯東提供半導體器件高低溫測試解決方案
推薦選用(Use)美國(Country) intest Thermostream 熱流儀 ATS -545 可滿足客戶的(Of)測試标準條件.
ATS-545 可提供 -75 to +225°C (50Hz) 的(Of)測試溫度
能夠提供有效的(Of)均勻的(Of)吹掃氣流垂直的(Of)吹到(Arrive)客戶所需要(Want)的(Of)元器件的(Of)表面, 4 to 18scfm 風速供客戶根據不(No)同要(Want)求提供選擇
提供标準配件, 接受客戶定制, 滿足不(No)同測試的(Of)元器件所需要(Want)的(Of)适當尺寸
在(Exist)溫度點之間的(Of)跳躍, 更快的(Of)速度實現切換
并且以(By)上(Superior)操作(Do)不(No)影響其他(He)非測試元器件. 保證客戶的(Of)單向分析

美國(Country) inTEST Thermostream 高低溫測試機可與愛德萬 advantest, 泰瑞達 teradyne, 惠瑞捷 verigy 工程機聯用(Use), 進行半導體芯片溫度沖擊測試 Thermal shock 和(And)溫度循環測試 Thermal cycle! 上(Superior)海伯東是(Yes)美國(Country) inTEST 高低溫測試機中國(Country)總代理

鑒于(At)客戶信息保密, 若您需要(Want)進一(One)步的(Of)了(Got it)解半導體元器件高低溫測試應用(Use), 請參考以(By)下聯絡方式：
上(Superior)海伯東: 葉女士                             台灣伯東: 王女士
M: +86 1391-883-7267                    T: +886-03-567-9508 ext 161
F: +86-21-5046-1490                      F: +886-03-567-0049
M: +86 1391-883-7267                   M: +886-939-653-958
qq: 2821409400
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