上(Superior)海 inTEST 熱流儀搭配 Keysight 進行功率器件高低溫測試閱讀數: 5461
inTEST 熱流儀搭配 Keysight 進行功率器件自動化高低溫測試
上(Superior)海伯東美國(Country) inTEST 熱測産品搭配 Keysight 機台, 提供 IGBT, RF Device, MOSFET, Hi Power LED 等功率器件 -100℃ - 350℃ 自動化熱測試解決方案. Keysight 機台兼容 inTEST 軟件, 操作(Do)簡單.
功率器件高低溫測試案例一(One):
上(Superior)海伯東美國(Country) inTEST Thermal Plate HP289-PM 搭配 Keysight B1505A 或 B1506A, 完成室溫至 250℃ 溫度測試. 通用(Use)軟件, 操作(Do)簡單, 隻需将待測器件放置在(Exist) Thermal Plate 上(Superior)即可. 通過使用(Use) inTEST 最大(Big)可能的(Of)減少長線纜導緻的(Of)測試問題, 兼容接頭将 Keysight 分析儀與 inTEST 熱闆連接在(Exist)一(One)起.
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上(Superior)海伯東美國(Country) inTEST HP289-PM 是(Yes)一(One)個(Indivual)溫控平台, 可以(By)與 Keysight B1505A 和(And) B1506A 功率器件分析儀聯用(Use). 該平台允許自動控制闆溫度, 從外殼環境溫度到(Arrive) 250°C, 用(Use)于(At)表征功率器件, 例如 IGBT 和(And) MOSFET. |
功率器件高低溫測試案例二:
inTEST ThermalStream 高低溫沖擊測試機搭配 B150XA 系統, 提供 -50℃~250℃ 的(Of)溫度測試環境.
測試時(Hour), 隻需将待測功率器件放置在(Exist)高低溫測試機測試罩内即可. 如果未連接測試腔, 則測試器件可能會因熱空氣或冷凝水而損壞. 連接到(Arrive)測試設備和(And) Thermostream 的(Of)熱防護罩解決了(Got it)這(This)個(Indivual)問題, 可進行準确. 可靠和(And)可重複的(Of)溫度特性測試.
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上(Superior)海伯東美國(Country) inTEST ThermalStream 熱流儀搭配 Keysight B150XA 系統評估 -50°C 至+ 250°C 溫度範圍内的(Of)功率器件特性, 是(Yes)半導體器件制造商中比較通用(Use)的(Of)測試手段, ThermoStream 具有快速的(Of)熱循環和(And)精确的(Of)溫度控制,是(Yes)高功率器件可靠性測試和(And)表征的(Of)理想選擇. |
功率器件高低溫測試案例三:
某企業通過上(Superior)海伯東推薦, 購入美國(Country) ThermoStream ATS-710 高低溫沖擊測試機, 爲(For) MOSFET \ MOS 管, 場效應管, TO 封裝等器件提供 -50 至 +150 °C 快速精準的(Of)外部溫度環境, 滿足測試器件性能的(Of)要(Want)求.
inTEST Thermal Plate 熱台 (環境溫度至 +250°C) 和(And) ThermoStream (-50 至 +250°C) 可滿足高溫和(And)極低溫測試的(Of)需求. 兩種溫度測試都具有溫度自動循環, 數據記錄和(And)遠程通信功能.
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