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氦質譜檢漏儀密封繼電器檢漏
随着科技進步, 應用(Use)于(At)航天相關的(Of)電子元器件洩漏檢測已逐步成爲(For)生(Born)産檢測的(Of)重要(Want)環節之一(One), 電子元器件中目前應用(Use)檢漏技術的(Of)主要(Want)爲(For)密封繼電器, 微型密封高可靠極化繼電器要(Want)求漏率小于(At) 1×10-9 Pa m3/s.
利用(Use)氦質譜檢漏儀可以(By)方便地對密封繼電器作(Do)漏率測定, 針對不(No)同的(Of)産品, 需要(Want)選擇适當的(Of)檢漏方法
推薦選擇前級泵爲(For)幹泵的(Of)檢漏儀 ASM 340 D, 保證清潔無油, 避免對元器件造成污染
上(Superior)海伯東繼電器檢漏方法: 采用(Use)檢漏儀的(Of)背壓法檢漏, 背壓法檢漏适用(Use)于(At)小型全密封工件, 測試密封繼電器的(Of)整體漏率
繼電器的(Of)背壓檢漏法分爲(For)以(By)下三個(Indivual)步驟
1. 加氦壓: 将被檢繼電器放入充氦的(Of)壓力罐中; 按照 GJB 360A-96 規定計算内腔體積, 選擇适當的(Of)加壓壓力和(And)加壓時(Hour)間, 若繼電器有漏, 則高壓氦氣被壓入繼電器内腔.
2. 淨化: 從壓力罐中取出(Out)繼電器, 用(Use)氮氣流或空氣流吹淨繼電器表面吸附的(Of)氦氣.
3. 檢漏: 将繼電器放人(People)連接檢漏儀的(Of)腔體中進行檢測 (之前已設置好漏率值等), 若繼電器有漏, 壓入内腔的(Of)氦氣會進入檢漏儀, 儀器上(Superior)會有漏率顯示. 如果檢漏腔較大(Big), 可以(By)加配前級泵, 用(Use)于(At)輔助抽真空. 減少檢漏時(Hour)間.
上(Superior)海伯東推薦繼電器檢漏用(Use)氦質譜檢漏儀 ASM 340 D
對氦氣的(Of)最小檢測漏率, 真空模式 5E-13 Pa m3/s |
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檢測氣體: 4He, 3He, H2 |
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檢測模式: 真空, 吸槍 |
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對氦氣的(Of)抽氣速度 2.5 l/s |
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進氣口最大(Big)壓力 25 hPa |
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前級泵抽速 3.4 m3/h |
結合了(Got it) Pfeiffer 與 Adixen 兩家檢漏儀的(Of)技術優勢, 上(Superior)海伯東德國(Country) Pfeiffer 推出(Out)全系列新型号氦質譜檢漏儀, 從便攜式檢漏儀到(Arrive)工作(Do)台式檢漏儀滿足各種不(No)同的(Of)應用(Use). 氦質譜檢漏儀替代傳統泡沫檢漏和(And)壓差檢漏, 利用(Use)氦氣作(Do)爲(For)示蹤氣體可精确定位, 定量漏點. 氦質譜檢漏儀滿足單機檢漏, 也可集成在(Exist)檢漏系統或 PLC. 推薦氦質譜檢漏儀應用(Use) >>
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