普發氦質譜檢漏儀

inTEST ATS-710 應用(Use)于(At) 100G 光模塊高低溫測試
光模塊是(Yes)進行光電和(And)電光轉換的(Of)光電子器件.光模塊的(Of)發送端把電信号轉換爲(For)光信号, 接收端把光信号轉換爲(For)電信号. 光模塊按照封裝形式分類, 常見的(Of)有 SFP, SFP+, SFF, 千兆以(By)太網路界面轉換器 GBIC 等.

光模塊需要(Want)進行高低溫測試
光模塊是(Yes)由發射器和(And)接收器組成, 當發射器通過光纖與接收器連接時(Hour), 如果整個(Indivual)系統的(Of)誤碼率沒有達到(Arrive)預期的(Of)效果, 是(Yes)發射器的(Of)問題還是(Yes)接收器的(Of)問題? 一(One)個(Indivual)成品的(Of)光模塊, 爲(For)保證産品的(Of)質量, 要(Want)經過多個(Indivual)步驟的(Of)測試方可出(Out)廠. 其中在(Exist)通訊領域的(Of)應用(Use)需要(Want)在(Exist) -40 到(Arrive)85度測試其接發功能, 因此需要(Want)進行高低溫測試.

上(Superior)海伯東 100G 光模塊高低溫測試客戶案例: 四川某家領先的(Of)光模塊生(Born)産商, 生(Born)産和(And)銷售多種類的(Of)高性能光模塊和(And)光器件, 産品廣泛應用(Use)于(At)數據中心, 電信網絡（FTTx, LTE和(And)傳輸), 智能電網等 ICT 行業. 通過上(Superior)海伯東推薦采購 inTEST ThermoStream ATS-710 用(Use)于(At) 100G 光模塊量産測試.


100G 光模塊高低溫測試過程
1. 将已與 ATS-710 連接的(Of)電腦端設置 -40度及 85度兩個(Indivual)值的(Of)循環
2. 把出(Out)氣端玻璃罩移動到(Arrive)客戶工裝進氣口
3. 将一(One)對光模塊插進工裝裏面的(Of)闆卡接口
4. 點擊啓動按鈕, 将光模塊表面迅速加熱及降溫至設定測
5. 運行光模塊, 檢測光模塊性能, 性能 OK後點擊暫停.取出(Out)光模塊;
7. 重複 4, 5, 6 這(This)三個(Indivual)操作(Do), 并儲存相關數據.

美國(Country) inTEST Thermal Solutions 超過 50 年的(Of)熱測系統研發專家, 産品包含 Temptronic ThermoStream 高低溫測試機 (又稱熱風罩,熱流儀)，Thermochuck,ThermoSpot 接觸式高低溫測試機和(And) Thermonics Chillers 制冷機. inTEST 已收購 Thermonics 和(And) Temptronic. inTEST 高低溫測試機廣泛應用(Use)于(At)安捷倫 (Agilent),台積電 (TSMC), IBM 等半導體, PCB 電路闆, 光通訊, 電子行業. 上(Superior)海伯東是(Yes)美國(Country) inTEST 中國(Country)總代理

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