普發氦質譜檢漏儀

inTEST 熱流儀觸摸屏控制芯片高低溫沖擊測試
觸摸屏控制芯片又稱觸摸屏芯片, 觸控芯片, 屬于(At)半導體芯片一(One)種, 廣泛應用(Use)于(At)如消費類電子, 家用(Use)電器, 車載觸摸屏, 移動終端, 智能電網, 物聯網等多個(Indivual)領域. 觸控芯片的(Of)關鍵性能指标, 除響應速度, 抗電磁幹擾, 防水等要(Want)求外, 芯片工作(Do)溫度也要(Want)求非常高.

上(Superior)海伯東美國(Country) inTEST 熱流儀提供觸摸屏控制芯片高低溫測試解決方案
某觸控芯片企業, 其産品已在(Exist)全球十多億台智能設備上(Superior)運行, 廣泛應用(Use)于(At)手機, 平闆電腦, 筆記本電腦, 智能家居, 汽車等産品. 一(One)直采用(Use)上(Superior)海伯東美國(Country) inTEST ATS-710E-M 熱流儀與其測試機搭配, 爲(For)分析觸摸屏控制芯片, 觸摸闆控制芯片, MCU 觸摸按鍵等産品的(Of)特性提供快速精準的(Of)外部溫度環境, 實現測試芯片性能的(Of)要(Want)求.

inTEST 熱流儀滿足觸控芯片的(Of)三項測試标準:
一(One). 基本性能測試: 溫度範圍 -50℃ 至 120℃ 之間快速循環測試
二. 特殊功能測試（非标準測試）: 搭配測試機共同使用(Use), 通過軟件控制機台, 通常設定3個(Indivual)溫度點, 高溫（80℃或 120℃）, 常溫 25℃, 低溫 -50℃; 結合測試機測參數, 測試時(Hour)間可幾秒鍾, 幾十分鍾, 甚至幾個(Indivual)小時(Hour).
三. 可靠性測試

上(Superior)海伯東美國(Country) inTEST ThermoStream 熱流儀是(Yes)爲(For)觸摸屏芯片提供低溫或高溫環境來(Come)進行可靠性測試的(Of)專用(Use)儀器, 因爲(For)其能在(Exist)短時(Hour)間内迅速改變溫度而被廣泛應用(Use)于(At)芯片測試中, 能夠模拟觀察芯片在(Exist)惡劣環境下的(Of)性能是(Yes)否能維持正常水平. 測試系統在(Exist)工作(Do)過程中, 會依據設定的(Of)溫度, 使系統通過特定的(Of)運算得出(Out)結果并去控制加熱器來(Come)達到(Arrive)調節溫度的(Of)目的(Of).
 

inTEST 熱流儀功能特點

型号: ATS-710E-M 溫度範圍: -80 至+225 °C 變溫速率: -55至 +125°C 約 10 s; +125至 -55°C 約 10 s 溫度顯示精度: ±1℃ (通過美國(Country)國(Country)家标準與技術研究院 NIST 校準) 自動升降溫: 冷凍機特殊設計, 制冷劑不(No)含氟利昂, 安全無毒, 不(No)易燃, 有效保護環境; 不(No)需要(Want)液态氮氣 LN2 或液态二氧化碳 LCO2 冷卻 預防結霜: 幹燥氣流循環吹掃測試表面, 防止水汽凝結 (氣體流量 0.5 至 3 scfm) 自動待機: 空閑或加熱模式下, 自動減少能耗 加熱除霜: 快速去除冷凍機内部積聚的(Of)水汽

若您需要(Want)進一(One)步的(Of)了(Got it)解觸摸屏控制芯片高低溫沖擊測試, 請參考以(By)下聯絡方式
上(Superior)海伯東: 葉小姐                                   台灣伯東: 王小姐
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